Базы данных по физике поверхности полупроводников
http://silicon.dvo.ru
Home
About Us
Webpage of autors
Server for project
Our institute
Зависимость отношения оже-пиков от толщины слоя.
In / Si / (111)
MNN (In) = 404 eV
KLL (Si) = 92 eV
Library
! Статьи \ Поиск !
Последние внесенные статьи
Литература
Si
Основные свойства Si
Фазовая диаграмма
Точка плавления / кипения
Давление паров
Список сокращений и обозначений
LEED
LEED (ДМЭ)
Изображения ДМЭ
Пример Si(111)7x7
AES
Атлас оже-спектров
ЭОС (AES)
Длина свободного пробега элктрона
Энергия связи электронов
Факторы обратного рассеяния
Толщина монослоя
Зависимость отношения оже-пиков от покрытия